WBE-KSH1000/Prüfkammer für schnelle Temperaturänderungen

Der Prüfling kann Temperaturbelastungstests (ESS), Temperatur- und Feuchtigkeitsscreenings, Zuverlässigkeitstests usw. unterzogen werden. Häufig verwendete Temperaturrampenraten sind 5 °C/min, 10 °C/min, 15 °C/min, 20 °C/min und 25 °C/min.

Anwendungsbereiche:

Halbleiterchips, wissenschaftliche Forschungseinrichtungen, Qualitätsprüfung, neue Energien, optoelektronische Kommunikation, Luft- und Raumfahrt und Militärindustrie, Automobilindustrie, LCD-Displays, Medizin- und andere Technologieindustrien.

Prüfnormen:

GB/T 2423.1 Prüfverfahren für niedrige Temperaturen, GJB 150.3 Prüfverfahren für hohe Temperaturen, GB/T 2423.2 Prüfverfahren für hohe Temperaturen, GJB 150.4 Prüfverfahren für niedrige Temperaturen, GB/T2423.34 Prüfverfahren für Feuchtigkeitszyklen, GJB 150.9 Verfahren für Feuchtigkeitstests, IEC60068-2 Temperatur- und Feuchtigkeitstestverfahren, MIL-STD-202G-103B Feuchtigkeitstestverfahren

Produktmerkmale:

1. Das Produkt erfüllt sowohl die Anforderungen an lineare als auch nichtlineare Temperaturrampen.
2. Es erfüllt die Anforderungen an die Temperaturrampenrate von 5 °C / min bis 30 ° C / min.
3. Zu den optionalen Funktionen gehören flüssiger Stickstoff, feuchte Hitze und Antikondensation.
4. Durch die Verwendung der elektronischen Expansionsventiltechnologie und eines innovativen Steuerungssystems erzielt das Produkt Energieeinsparungen von mehr als 45%.